MM32F013x——IEC60730-1 B类认证软件设计指南（四）

在上一章节中我们介绍了RAM检测的实现方法，本章节我们将给大家介绍FLASH检测的实现方法。

测试Flash存储器完整性时，需要用到CRC校验，在参考代码中我们使用了硬件的CRC单元，通过硬件CRC生成器完成的CRC计算大大降低CPU负载。

Flash存储器测试的范围由用户界定，在运行时，如果整个内存范围因测试时间太长而不能接受，用户可将其分成若干片段，Flash存储器测试范围由用户界定，我们需要对被测试区域进行动态修改，以便在那些区域单独执行测试。

检查区域的边界必须与测试中用到的多重测试块的大小一致。根据mm32\_STLparam.h文件中定义的参数FLASH\_BLOCK\_WORDS，块大小默认设为16字（ 64字节），检查中未使用的内存区域可通过预定义值来识别。

我们会将CRC校验值存储在某一个地址，然后将CRC计算结果与相应的参考值进行比较，参考模式可由编译器（ IAR™）自动提供或由在外部计算后由最终用户添加（ MDK-ARM®和AC6）。

在ClassB检测中，Flash存储器检测也分为启动自检与运行自检两部分。

启动时对FLASH的检测方法：

编译时计算整个FLASH的CRC校验值，并存储在FLASH末尾位置；
启动时，用同样的算法重新计算整个FLASH的CRC校验值（不包括前面存储在FLASH中的CRC校验值），并与存储在FLASH中的CRC校验值做比较

函数为：
void STL\_StartUp(void);

运行时对FLASH的检测方法：

对FLASH分块逐次计算出最终的CRC校验值；
将最终结果与正确的CRC校验值做比较

函数为：
ClassBTestStatus STL\_crc32Run(void);

1. FLASH验证方法：

FLASH的验证分为2个步骤，如下所示：

读取PC端计算FLASH对应的CRC值。
MCU运行计算出来的CRC值与读取到的PC端计算的CRC值进行比较。

1.1 设置IAR生成CRC

1、IAR可以很方便的支持在编译时计算CRC32，并存储在FLASH指定位置。

Fill unused code memory：定义了FLASH中需要计算CRC的范围和空闲字节填充值；
Checksum size：选择checksum的大小（字节数）；
Alignment：指定checksum的对齐方式，不填的话默认2字节对齐；
Algorithm：选择checksum的算法；
Complement：是否需要进行补码计算，选择“As is”就是不进行补码计算；
Bit order：位输出的顺序，MSB first，每个字节的高位在前；LSB first，每个字节的低位在前；
Reverse byte order within word：对于输入数据，在一个字内反转各个字节的顺序；
Initial value：checksum计算的初始化值；
Checksum unit size：选择进行迭代的单元大小，按8-bit，16-bit还是32-bit进行迭代。

2、指定checksum在FLASH中的存储位置——修改linker文件：

place at end of ROM_region { ro section .checksum };

1.2 设置Keil生成CRC脚本

在Keil中需要单独计算CRC的值，并手动添加代码将其放在FLASH末尾。

当MDK在工程编译完成以后会在option for target ->User页面下面，勾选After build/Rebuild中的Run#1选项，则会在工程编译完成以后执行After build/Rebuild中的Run#1选项后面User Command路径选择中选择的脚本（crc\_gen\_keil.bat脚本）。

SREC\_PATH：设定工具路径；
TARGET\_NAME：生成Hex文件名；
MAP\_FILE：原始生成的map文件；
INPUT\_FILE：原始生产的HEX文件；
OUTPUT\_FILE：计算CRC后的CRC文件；

REM Path configuration
SET SREC_PATH=C:\SREC
SET TARGET_NAME=CLASSBTEST
SET TARGET_PATH=OBJ
SET BYTE_SWAP=1
SET COMPARE_HEX=1
SET CRC_ADDR_FROM_MAP=1
REM Not used when CRC_ADDR_FROM_MAP=1
SET CRC_ADDR=0x08007ce0

执行SET批处理命令，将相关的文件赋值给相对应的变量。

REM Derived configuration
SET MAP_FILE=%TARGET_PATH%\%TARGET_NAME%.map
SET INPUT_HEX=%TARGET_PATH%\%TARGET_NAME%.hex
SET OUTPUT_HEX=%TARGET_PATH%\%TARGET_NAME%_CRC.hex
SET TMP_FILE=crc_tmp_file.txt

通过srec\_cat.exe工具查找map文件中的\_\_check\_sum地址，并把计算的新的CRC的值填入到这个地址。

1.3 在启动文件中设置CRC校验

    AREA    CHECKSUM, DATA, READONLY, ALIGN=6
    EXPORT  __Check_Sum
    ALIGN
   __Check_Sum     DCD     0x8A7A061D;
   END

1.4 配置硬件CRC

MM32的CRC初始化配置较简单，使能CRC时钟，复位 CRC 计算单元即可。

RCC_AHBPeriphClockCmd(RCC_AHBENR_CRCEN,ENABLE);
CRC_ResetDR();

计算CRC的数值：

  for(index = 0; index < (uint32_t)ROM_SIZEinWORDS; index++)
  {
    CRC->DR = __REV(*((uint32_t *)ROM_START + index));
  }
  crc_result = CRC->DR;

2. MCU运行中计算FLASH中的CRC

把要计算的FLASH大小分成多块累计计算CRC。

uint32_t index;

for(index = 0; index < (uint32_t)FLASH_BLOCK_WORDS; index++)
  {
    CRC->DR = __REV(*(pRunCrc32Chk + index));
   }
  pRunCrc32Chk += FLASH_BLOCK_WORDS;
  pRunCrc32ChkInv = ((uint32_t *)~((uint32_t)pRunCrc32Chk));

result = TEST_RUNNING;

2.1 MCU运行中计算的CRC的数值与PC端计算的CRC数值进行比较

如果两者计算的CRC的数值相同则FLASH验证通过，否则验证失败。

启动时对比结果：

  #if defined(__CC_ARM) || defined(__GNUC__)
    if(crc_result != *(uint32_t *)(&REF_CRC32))
  #endif
    {
      #ifdef STL_VERBOSE_POR
        printf("FLASH 32-bit CRC Error at Start-up\n\r");
      #endif  /* STL_VERBOSE_POR */
        FailSafePOR();    //for ROM test  realse must  open;
        //control_flow_resume(CRC_TEST_CALLER);
    }
    else
    { /* Test OK */
      #ifdef STL_VERBOSE_POR
        printf(" Start-up FLASH 32-bit CRC OK\n\r");
      #endif  /* STL_VERBOSE_POR */

control_flow_resume(CRC_TEST_CALLER);
    }

运行时对比结果：

if(CRC->DR == *(uint32_t *)(&REF_CRC32))
{
   result = TEST_OK;
}
else
{
   //result = TEST_OK ;     //  for ROM test  realse must  open;*******
   result = TEST_FAILURE;
}

如果该块的FLASH检测通过，则进行下一次的检测，循环这一个过程。

至此，FLASH的校验已经全部完成，具体的配置程序可以参考官网例程。