【嘉勤点评】芯视元的平整度校正专利，通过测量及运算并经过数据拟合处理得到LCoS微显示芯片模块中所有像素点的相位校正量，从而实现LCoS空间光调制器的显示芯片平整度校正，适用于对显示芯片平整度要求较高的场景。
集微网消息，近日由芯视元承办的“芯机联动”AR/VR集成电路公共服务平台启用仪式暨第二届AR/VR论坛隆重举行。芯视元发布了新品空间光调制器芯光-II-101，它搭载了自主研发、具有完全知识产权的高性能硅基液晶芯片(LCoS) 。
随着对波前控制精度要求的提高，对液晶空间光调制器自身特性测量与分析也变得日益重要。因芯片表面曲率与ITO玻璃表面曲率不同，导致之间灌装的液晶不平整，而空间光调制器的相位信息对这种不平整液晶比较敏感，能够得到一个在合理误差范围内的相位响应曲线成为提升其性能关键，因此校正平整度至关重要。
为此，芯视元于2020年11月23日申请了一项名为“LCoS空间光调制器的显示芯片平整度校正系统”的发明专利（申请号: 202011316717.9），申请人为南京芯视元电子有限公司。
图1 显示芯片平整度校正系统结构框图
图1为LCoS空间光调制器的显示芯片平整度校正系统的结构框图，该系统包括微控制模块、驱动模块、相位调制测量模块、LCoS微显示芯片模块。
其中目标LCoS空间光调制器由驱动模块和LCoS微显示芯片模块组成。相位调制测量模块能够在LCoS微显示芯片模块显示各测试图片时，测量LCoS微显示芯片模块中各预设校正基准点的相位信息，进而获取各校正基准点分别所对应的相位响应曲线数据，并反馈给微控制模块。预设校正基准点为按照预设的位置在LCoS显示芯片中的各像素点中选取的像素点，预设校正基准点的个数不超过目标LCoS空间光调制器的LCoS显示芯片的分辨率。微控制模块根据各校正基准点的相位响应曲线数据，获取各校正基准点的相位校正量，并将相位校正量和指令数据发送至驱动模块。
驱动模块驱动点亮LCoS微显示芯片模块，还可以根据各校正基准点的相位校正量，获取LCoS微显示芯片模块中各像素点的相位校正量，并根据其对对应的像素点的相位进行校正。LCoS空间光调制器可以接收但不限于接收RGB数据、MIPI类型的数据。
相位调制测量模块对各测试图片进行测量，将获取的各校正基准点的相位响应曲线数据发送至微控制模块，直至微控制模块发送至驱动模块的控制指令将各校正基准点的相位响应曲线中的各相位值和参考相位基准曲线中的对应位置的相位的差值校正至允许误差范围内。如果所有的相位差值均在允许的误差范围内，则直接停止校正，否则结束一次相位校正后微控制模块重新发送测试图片数据，重复前述校正过程，直至各相位差值均在允许误差范围内。
简而言之，芯视元的平整度校正专利，通过测量及运算并经过数据拟合处理得到LCoS微显示芯片模块中所有像素点的相位校正量，从而实现LCoS空间光调制器的显示芯片平整度校正，适用于对显示芯片平整度要求较高的场景。
芯视元是一家专注于智慧显示芯片研发的高新技术企业，致力于微显示芯片的研究和研发，将持续推出系列LCoS、Micro LED和Micro OLED产品以满足行业的各种需求，服务于行业上下游合作伙伴。
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（校对/holly）
