【嘉勤点评】奕斯伟计算的芯片专利，通过信号生成模块基于测试指令生成与待测芯片相适应的硬件信号，从而降低芯片验证工作的复杂程度，提高芯片验证的效率。
集微网消息，近日奕斯伟计算凭借其在芯片与解决方案领域的突出表现入选毕马威中国“芯科技”新锐企业50榜单。近两年来，奕斯伟计算产品不断丰富，业务进展迅速，凭借强劲的发展势头，受到行业广泛关注。
采用同一个芯片验证系统，在对不同的芯片进行验证时，由于所要实现的细节会所有不同，因此在对不同芯片实际进行验证前，需要根据当前待验证的芯片的硬件情况对芯片验证系统中某些功能点进行取舍，才能满足对不同芯片的同一个功能的验证。这样，就会增加芯片验证工作操作的复杂程度，降低芯片验证的效率。
为此，奕斯伟计算于2021年7月30日申请了一项名为“芯片验证系统及方法”的发明专利（申请号:202110870878.0），申请人为北京奕斯伟计算技术有限公司。
图1 芯片验证系统结构示意图
图1为本发明提出的芯片验证系统的结构示意图，该系统包括：测试事件模块101、信号生成模块102、待测模块103、对比模块104，四个模块依次连接。测试事件模块接收并保存用户输入的测试指令，并将其发送至信号生成模块。这里的测试指令是基于脚本生成的指令。通过该测试指令，能够对芯片的一个或多个功能进行验证。
信号生成模块接收测试事件模块发送的测试指令，并根据接收到的测试指令生成与待测芯片相适应的硬件信号。由于芯片验证系统是对芯片的硬件功能进行测试，因此输入芯片的信号也是硬件信号。而测试事件模块中接收到的是软件化的测试指令，所以，需要将软件化的测试指令转换为硬件信号，以输入至待测芯片，对待测芯片进行测试。
待测模块放置待测芯片，使得待测芯片能够接收信号生成模块发送的硬件信号，进而生成输出数据。也就是说，当需要对待测芯片进行功能验证时，首先，需要将待测芯片放置于待测模块中。由于待测模块与信号生成模块连接，因此，在信号生成模块基于测试事件发送的测试指令生成硬件信号后，待测模块就能够接收到信号生成模块生成的硬件信号。然后，待测模块将硬件信号传输给放置于其中的待测芯片。最后，待测芯片对接收到的硬件信号进行处理，产生输出，即生成输出数据。
对比模块获取输出数据，并根据输出数据和预设数据的对比结果确定待测芯片是否通过验证。预设数据为待测芯片在功能正常的情况下响应硬件信号输出的数据。举例来说，假设需要验证待测芯片的指示功能是否正常。输入待测芯片的是硬件信号a，待测芯片基于硬件信号a生成输出数据a’，对比输出数据a’与预设数据，预设数据触发相应的指示灯亮起，若对比结果为一致，则确定待测芯片的指示功能通过验证；若对比结果为不一致，则确定待测芯片的指示功能没有通过验证。
简而言之，奕斯伟计算的芯片专利，通过信号生成模块基于测试指令生成与待测芯片相适应的硬件信号，从而降低芯片验证工作的复杂程度，提高芯片验证的效率。
奕斯伟计算是一家集成电路领域产品和服务提供商，核心事业涵盖芯片与方案、硅材料、先进封测三大领域。奕斯伟集团拥有全球半导体领域经验丰富的技术研发和经营管理团队，将一直朝着成为受人尊敬的伟大企业的愿景前进。
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（校对/holly）
