当前，集成电路制造工艺的不断进步，特征尺寸变得越来越小，使得ESD静电放电等干扰越来越影响芯片的可靠性。随着半导体产业先进制程发展推进，芯片级电磁兼容性越来越受到各方面的重视。如人体静电测试即为模拟因人体累积的静电传导至芯片后瞬间产生的电流，造成可能造成芯片的损毁的后果。又如车用电子AEC-Q100-011特别强调corner pin的概念，认为有尖端放电的问题，因此测试定义上提高了允收规格，corner pin允收规格得≧750V。
芯片制造商们都努力改进白己的产品来满足电磁兼容规范，以此来提高产品在市场上的竞争力。ESD测试也成为半导体产品先期质量验证的重要关键指针。
珠联璧合 构建芯片ESD测试磐石之路
摩尔精英与蔚思博检测ESD实验室（以下简称蔚思博）联合提供的一站式ESD测试方案。旨在满足产业客户各类静电防护测试需求，实验室内配有多项静电防护测试设备，并由资深经验工程师团队进行实验操作，迅速提供专业的检测报告。
我们的优势：
咨询定制化：1V1技术人员对接提升沟通效率
方案精细化：专业的硬件设施与软件满足需求
定价标准化：透明的价格体系“货真”且“价实”
全面的静电防护ESD测试类别
人体静电测试(HBM，Human Body Model)：模拟因人体在地上走动磨擦或其他因素，在人体上已累积了静电，当此人去碰触到芯片时，人体上的静电便会经由芯片的pin脚进入芯片内，再经由芯片放电到地去，瞬间产生的电流可能造成芯片的损毁。
机械静电测试(MM，Machine Model)：模拟机器设备本身累积了静电，当此机器去碰触到芯片时，该静电便经由芯片的pin脚放电。因机械其等效电阻为0奥姆，因此瞬间产生的电流更大，对芯片的破坏力也强。但目前标准规范大都已经取消了MM静电测试模式。
充电放电测试(CDM，Charged Device Model)：此模式是指芯片先因磨擦或其他因素而在内部累积了静电，但在静电累积的过程中并未被损伤。当此带有静电的芯片在使用时，其pin脚碰触到接地面时，芯片内部的静电便会经由pin脚自芯片内部流出来，而造成了放电的现象。另外，车用电子AEC-Q100-011特别强调corner pin的概念，认为有尖端放电的问题，因此测试定义上提高了允收规格，corner pin允收规格得≧750V。
HBM、MM、CDM三种测试之放电时间与电流比较图：人体静电模式(2 KV)，机器静电模式(200V)， 与组件充电模式(1 KV)放电电流的比较图。
Latch-up闩锁测试：闩锁测试主要参考JEDEC 78规范以及AEC-Q100-004之定义，其中在车用电子的测试中，定义必须使用Class II，即最高环境温度条件 (Maximum Operation Temperature)，较传统常温更为严格。
TLP传输线脉冲测试：传输线脉冲(TLP，Transmission Line Pulse)测试，属于半导体产品静电放电的先期模拟方法。TLP透过每次使用一个脉冲条件，已获得一个I-V点的方式，持续的施加下，直到漏电(leakage)超过规格值为止。
摩尔精英测试服务简介：
摩尔精英测试服务依托平均超30年经验的测试设备研发与应用开发团队，与基于经百亿颗芯片量产验证的自主ATE机台，摩尔精英为客户提供的全流程测试方案服务，包含测试方案开发、硬件设计制作、ATE程序开发与量产测试服务，为客户提供高性价比、高品质、极具弹性产能的芯片测试服务。
蔚思博检测简介
蔚思博检测为蔚华集团旗下第三方芯片检测实验室，2004年创立于新竹科学园区，2015年于上海张江成立芯片验证实验室，2020年蔚思博检测技术（合肥）有限公司正式成立，积累17年集成电路检测经验，具ISO 9001、ISO 17025、ISO 27001、CNAS等国际资质。营运据点涵盖合肥、上海、北京、西安、成都、新竹等地。提供完整的芯片工程验证与质量检测解决方案，包含可靠性试验、静电防护能力检测、失效分析、动态电性失效分析、芯片线路修补等服务。多年来致力服务半导体产业链，客户涵盖世界前十大芯片设计公司、全球知名晶圆厂、封测厂，成为半导体产业链中重要的合作伙伴。
