半导体测试是供应链管理最重要的手段之一，是芯片产品质量的“守门员”，也是芯片成本的重要组成部分。测试不仅仅是一个供应链的步骤，更是影响产品盈利的关键点。除了看得到的显性成本，测试的隐性的成本往往也被人所忽视。如何避免误区进行正确分析并做出符合产品的决策，也一直是半导体人在探讨的核心问题之一。
本次会议特邀摩尔精英产品工程副总裁赵庆博士，用“半导体测试经济学”来分析如何提升供应链管理，优化产品盈利能力，并探讨运营中争议点和误区。
直播大纲
- 半导体测试概述；
- 如何计算半导体测试中的显性和隐性成本？
- 如何降低半导体测试的成本？
- 如何避开量产测试中的坑？
赵 庆
摩尔精英产品工程 副总裁
- Texas A&M University电机工程博士
- IEEE高级会员
- TI技术委员会成员
- Southern Methodist University与University of Kentucky工业界指导委员会成员
- 美洲中国工程师学会主席
赵庆博士所领导的团队开发出世界领先的测试开发流程，将测试开发周期与人员投入减少为原来的十分之一，并将生产测试成本降低为原来的五分之一。近期，在他的领导下，摩尔精英为数十家客户提供优质测试服务，协助客户成功测试量产数十颗产品，降低超过30%的测试成本，并通过测试提升芯片出货品质，提升产品效益。
