【嘉勤点评】爱德万的测试专利，通过利用相同的硬件配置来支持多种不同的测试操作模式，有助于高效且有效地在测试系统中灵活实现不同类型的测试程序。
集微网消息，爱德万专注测试多年，其测试业务发展总监近日在第六届中国系统级封装大会上发表主题演讲表示，爱德万已经和业内的合作伙伴一起开发了新一代测试技术，以满足2.5D/3D封装的测试需求。
电子系统和设备对现代社会的进步做出了重大贡献，并在各种商业、科学、教育、和娱乐应用中，以及在分析和交流信息方面促进了生产力的提高和成本的降低。通常对这些电子系统和设备进行测试以确保正确的操作。尽管对系统和设备的测试取得了显著的进步，但是传统方法通常很昂贵，并且在吞吐量和便利性方面常常有局限性。
为此，爱德万于2021年4月2日申请了一项名为“灵活的测试系统和方法”的发明专利（申请号: 202110360907.9），申请人为爱德万测试公司。
图1 示例性测试环境或系统的框图
图1为示例性测试环境或系统的框图，其中包括被测器件(例如，110、111、112等)、装载板120、测试系统130和用户测试接口140。被测器件耦合到测试板或装载板，测试板或装载板耦合到测试系统，测试系统又耦合到用户接口。用户测试接口包括CPU141、存储器142和显示器143。测试系统包括FPGA，其包括测试加速器131。FPGA执行对持续的测试信息的初步分析。装载板把被测器件电气地和物理地耦合到测试系统。
两种形式或类型的测试的转换可以是自动的。当资格预审测试的结果满足特定的触发条件或阈值时，系统可以自动地建立并开始功能测试。系统中的测试可以建立并执行更严格的资格预审测试。如果初始的资格预审测试不满足特定的基准或阈值，则可以发起更严格的资格预审测试。
资格预审测试能力和功能测试能力被添加到测试器。测试器可以包括开关，该开关操作以在资格预审测试模式和功能测试模式之间进行选择。开关将所选信息发送到收发器。收发器被通信地耦合到被测器件。可以经由公共接口来向用户提供对控制和测试信息的访问。
图2 测试方法框图
图2为测试方法框图，主要包括以下步骤：首先选择第一类型的测试程序（310）。第一类型的测试程序是资格预审测试程序。在本实现方式中，第一类型的测试程序是BERT程序。其中BERT组件包括：测试模式生成器以及分析器，测试模式生成器生成逻辑1和0的预定压力模式，分析器把响应模式与发送模式进行比较。
然后在测试系统中执行第一类型的测试程序（320）。第一类型的测试程序是对装载于测试系统中的DUT执行的。再选择第二类型的测试程序（330）。该选择基于测试类型触发条件来进行。触发条件可以基于特定目标或阈值。
最后在测试系统中执行第二类型的测试程序（340）。第二类型的测试程序是在同一测试系统中执行的，而无需从测试系统中移出并且然后放置在另一单独的测试系统中。
简而言之，爱德万的测试专利，通过利用相同的硬件配置来支持多种不同的测试操作模式，有助于高效且有效地在测试系统中灵活实现不同类型的测试程序。
爱德万是全球领先的半导体测试设备企业，通过丰富、扩大和整合其在整个半导体价值链中的测试和测量解决方案，进一步为半导体行业作出贡献。未来爱德万将不断完善自我，开发最先进的技术，为社会发展做出贡献。
