【嘉勤点评】华虹半导体的晶圆加工专利,通过根据已加工的预定批数批晶圆的特征量测数据,来控制加工机台的工作状态,解决了目前同一道制程的多个联批作业未进行有效管控,容易导致大规模返工的问题。
集微网消息,华虹半导体销售收入再创历史新高达6.208亿美元,第二季销售收入同比增长79.4%,据悉第二季度主要受益于市场对其晶圆相关的工艺平台需求。
在加工晶圆时,将若干片晶圆作为一个批次,对于同一道制程,采用同一台机台对多批晶圆进行作业。然而目前,对于同一道制程多个联批作业没有进行有效地管控,若机台或制程发生异常,将会导致大规模返工。比如同一道光刻,如果光刻机台或制程发生漂移,关键尺寸或套刻精度发生异常,则会导致大规模的光刻返工。
为此,华虹半导体于2021年6月17日申请了一项名为“晶圆加工方法”的发明专利(申请号: 202110707623.2),申请人为华虹半导体(无锡)有限公司。
图1 晶圆加工方法流程图
图1为晶圆加工方法的流程图,该方法主要包括如下步骤:首先将晶圆按批次送入加工机台,并记录加工机台的加工批数(101)。加工机台的加工批数与统计加工批数不同,能够对在同一作业条件下加工的晶圆批次进行卡控。
然后通过加工机台在预定作业条件下对晶圆按批加工(102)。确定待加工的晶圆对应的预定作业条件;在同一预定作业条件下,通过同一台加工机台对待加工的晶圆按批次进行加工。当加工批数达到预定批数时,控制加工机台暂停晶圆加工作业(103)。每批(lot)晶圆送入加工机台后,记录加工机台的加工批数,并检测加工机台的加工批数是否达到预定批数。
然后获取已加工的预定批数批的晶圆的特征量测数据(104)。特征量测数据能够指示每批晶圆的加工情况。每批(lot)晶圆通过加工机台加工后,对加工后的晶圆进行量测,得到晶圆的特征量测数据。
图2 对加工机台/制程进行卡控示意图
图2为对加工机台/制程进行卡控的示意图,比如预定批数为5,当加工机台对5批(lot)晶圆进行加工后,获取经过加工的5批晶圆对应的特征量测数据。每一组预定批数批晶圆对应一个管控周期。当加工机台的加工批数达到预定批数时,获取该管控周期内已加工的预定批数批晶圆的特征量测数据。
最后根据已加工的预定批数批晶圆的特征量测数据,控制加工机台的工作状态(105)。根据已加工的预定批数批晶圆的特征量测数据,判断加工机台或制程是否发生异常;若未发生异常,则控制加工机台继续作业,即继续将晶圆按批送入加工机台,通过加工机台对每批晶圆进行加工,并开始一个新的管控周期;若发生异常,则控制加工机台停止作业,并通知相关的技术人员对加工机台或制程进行故障排查。
简而言之,华虹半导体的晶圆加工专利,通过根据已加工的预定批数批晶圆的特征量测数据,来控制加工机台的工作状态,解决了目前同一道制程的多个联批作业未进行有效管控,容易导致大规模返工的问题。
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