Scandump 是一种先进的硅调试技术,它巧妙地将 DFT(可测试性设计)扫描链重新用于功能调试。这种方法可以从拼接到扫描链中的寄存器或锁存器中提取状态,从而提供重要的诊断信息。当 CPU 出现死锁或系统硬件反应迟钝时,Scandump 尤为重要。通过捕捉内部状态的综合快照,Scandump 为工程师提供了分析系统状况的重要数据。这一功能使 Scandump 成为在硅验证和调试过程中识别和诊断复杂问题不可或缺的工具。
作者:Vincent Yang
文章来源:https://community.arm.com/arm-community-blogs/b/soc-design-and-simulation-blog/posts/understanding-scandump-a-key-silicon-debugging-tool
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