在数字时代，DRAM（动态随机存取存储器）扮演着至关重要的角色。它们存储着我们的数据，也承载着我们的记忆。然而，要正确地操作DRAM并确保其高效运行，了解其背后的时序和操作机制是必不可少的。
1. DRAM操作的挑战
DRAM的操作复杂性主要来自于其时序要求。DRAM是一种异步系统。只要信号以正确的顺序应用，并且信号持续时间和信号之间的延迟满足特定限制，DRAM就能正常工作。控制DRAM操作的主要信号包括：
- 行地址选通（RAS）：RAS信号是低电平有效。要启用RAS，需要从高电压过渡到低电压，并且电压必须保持低电平直到RAS不再需要。在完整的内存周期中，RAS必须保持有效状态的最小时间是tRAS。此外，RAS在再次激活之前必须保持非活动状态的最小时间是tRP。
- 列地址选通（CAS）：CAS用于锁定列地址并启动读或写操作。CAS也是低电平有效。内存规格列出了CAS必须保持活动状态的最小时间tCAS。对于大多数内存操作，CAS在再次激活之前也必须保持非活动状态的最小时间tCP。
- 写使能（WE）：写使能信号用于选择读操作或写操作。WE信号是低电平有效。
2. 读操作
读取DRAM中的数据时，需要通过地址输入引脚提供行和列地址来选择特定的DRAM存储单元。选中的DRAM单元上的电荷随后由灵敏放大器检测，并发送到数据输出引脚。
读操作的时序步骤如下：
- 在RAS信号变低之前，行地址必须应用于内存设备的地址输入引脚。
- RAS信号从高变低，并保持低电平一段时间（tRAS）。当RAS变低时，由行地址指定的内存行被打开，选中行的单元电荷开始流向位线。
- 在CAS信号变低之前，列地址必须应用于内存设备的地址输入引脚。
- 在CAS信号转换之前，WE信号必须设置为高电平以进行读操作，并在CAS转换后保持高电平。
- 经过规定的RAS到CAS延迟时间（tRCD）后，CAS信号从高变低，并保持低电平一段时间（tCAS）。这确保了选中单元的电荷在位线上，并被灵敏放大器正确检测。
- 数据出现在内存设备的数据输出引脚上，这个过程称为CAS延迟（tCL）。
- 读周期完成前，CAS和RAS必须返回到非活动状态。新的读或写访问只能在规定的行预充电时间（tRP）后开始。
3. 写操作
写入DRAM存储单元时，同样需要选择行和列地址，并将数据呈现在数据输入引脚上。灵敏放大器根据要存储的是1还是0，对存储单元的电容器进行充电或放电。
写操作的时序步骤如下：
- 在RAS信号变低之前，行地址必须应用于内存设备的地址输入引脚。
- RAS信号从高变低，并保持低电平一段时间（tRAS）。当RAS变低时，由行地址指定的内存行被打开。
- 数据在CAS信号变低之前必须应用于数据输入引脚。
- 在RAS信号变低后和CAS信号变低之前，列地址必须应用于内存设备的地址输入引脚。
- 为了进行写操作，WE信号必须设置为低电平。
- 经过规定的RAS到CAS延迟时间（tRCD）后，CAS信号从高变低，并保持低电平一段时间（tCAS）。
4. 刷新操作
由于DRAM存储单元是电容器，其电荷会随时间逐渐流失。如果电荷丢失，数据也会丢失。为了防止数据丢失，必须定期刷新DRAM，即恢复每个存储单元上的电荷。DRAM的刷新是逐行进行的，刷新频率取决于制造内存芯片的工艺和存储单元的设计。大多数现代DRAM每64毫秒需要刷新一次。
刷新DRAM时，通常使用所谓的CAS-before-RAS刷新序列。这个过程包括以下步骤：
- CAS信号从高变低，同时WE信号保持高电平（相当于读操作）。
- 经过规定延迟后，RAS信号从高变低。
- 内部计数器确定要刷新的行，并在地址引脚上应用行地址。
通过这些步骤，DRAM能够保持其数据的完整性，确保我们的信息安全存储。
5. 重要时序参数总结
- 行激活时间（tRAS）：RAS信号需要保持低电平的最小时间，以读取或写入存储位置。
- CAS延迟（tCL）：从正确列已打开的DRAM读取第一个比特所需的时间。
- 行地址到列地址延迟（tRCD）：激活RAS到激活CAS所需的最短时间。
- 随机访问时间（tRAC）：从没有激活行的DRAM读取第一个比特所需的时间。
- 行预充电时间（tRP）：数据检索成功后，需要关闭用于访问数据的行。
- 行周期时间（tRC）：与单次读或写周期相关的时间，tRC = tRAS + tRP。
作者：数字芯片
来源：数字芯片实验室
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