棋子 · 2019年10月17日

hierarchical atpg scan

做SCAN 时 , 提到的 hierarchical scan 指的是什么? 是如下的1)还是2)或者 其他解释 ?

1)是把整个design 分成几个大的module,各个module 单独做 EDT+ 串chain ,然后再合到 whole chip 一起出pattern 吗?

2)还是把整个design 分成几个大的module,各个module 用wrapper chain 包起来 再做 EDT+ 串chain ,然后再合到 whole chip 一起出pattern?

用wrapper chain 把 module 包起来做scan 的方法, 在什么情况下会用? 有何优缺点, 公司里一般会用这种方法吗?

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极术小姐姐 · 2019年10月17日

如果你说的是.hierarchical test,那么就是第二种,1500 wrapper可以隔绝外部对block的影响。

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